Код товара: 33767053
Базовый набор для магнитопорошковой дефектоскопии Nabakem MC6-Kit 1
Базовый набор для магнитопорошковой дефектоскопии Nabakem MC6-Kit 2
Нет в наличии
Базовый набор для магнитопорошковой дефектоскопии Nabakem MC6-Kit 1
Нет в наличии

Тип дефектоскопии:Магнитопорошковая дефектоскопия

Объем:0,45 л

Чехол/сумка в комплекте:нет

Класс чувствительности капиллярного контроля:нет

ГОСТ:ГОСТ 21105-87

Все характеристики

Нет в наличии, последняя цена

3 656 ₽

-10% для бизнеса

на первый заказ

Базовый набор для магнитопорошковой дефектоскопии MC6-Kit Nabakem предназначается для проведения магнитно-порошковой дефектоскопии для выявления поверхностных и подповерхностных дефектов в ферромагнитных материалах.

Перед каждым использованием интенсивно встряхнуть!

Очистить поверхность с помощью очистителя Nabakem MegaCheck MCC1010, на сухую поверхность объекта контроля распылить магнитную суспензию Nabakem SM15.
Контроль проводится методом приложенного магнитного поля или методом остаточной намагниченности.
Выявление происходит в виде скопления черных магнитных частиц на дефекте.
Для получения высокого контраста дефектов следует нанести тонкий слой белого грунта Nabakem MP35.
 

Технические характеристики

Габариты без упаковки
380x250x100 мм
Тип дефектоскопии
Магнитопорошковая дефектоскопия
Объем
0,45 л
Чехол/сумка в комплекте
нет
Класс чувствительности капиллярного контроля
нет
ГОСТ
ГОСТ 21105-87
Вес нетто
1.35 кг
Комплект
3 шт

Преимущества

  • Готовый набор для МПД

*Производитель оставляет за собой право без уведомления дилера менять характеристики, внешний вид, комплектацию товара и место его производства. Указанная информация не является публичной офертой

Южная Корея

Южная Корея — родина бренда

Южная Корея

Южная Корея — страна производства

Комплектация

  • Очиститель Nabakem MegaCheck MCC1010 - 1 шт;
  • Магнитная суспензия Nabakem SM15 - 1 шт;
  • Белый грунт Nabakem MP35 - 1 шт

Информация об упаковке

Единица товара: Штука

Вес, кг: 1.4

Длина, мм: 67

Ширина, мм: 67

Высота, мм: 200

Товар не подлежит обязательному подтверждению соответствия