Микроскоп для научных исследований и промышленного контроля предназначен для исследования объектов в поляризованном и обычном свете. Установка опциональных компонентов позволит использовать методы темного поля, фазового контраста и дифференциально-интерференционного контраста в проходящем свете, а также дифференциально-интерференционного контраста и люминесценции в отраженном свете.
В проходящем свете изучают геологические шлифы, тонкие анизотропные биологические и полимерные объекты.
В отраженном свете исследуют непрозрачные аншлифы с отполированной одной стороной. Толщина аншлифа произвольная, обычно 5–10 мм. Микроскоп позволяет изучать непрозрачные объекты толщиной до 30 мм.
Для формирования изображения поляризационный микроскоп использует оптическое свойство двойного лучепреломления анизотропных объектов. Плоско-поляризованный свет при прохождении через анизотропный образец расщепляется на два луча и меняет плоскость поляризации. Анализатор приводит колебания лучей в одну плоскость, где они интерферируют. Яркое высококонтрастное изображение меняет цвет при вращении столика.
Микроскоп оснащен камерой 8,3 Мпикс с интерфейсом USB 3.0. Камера подключается к компьютеру и выводит изображение на его экран. Программное обеспечение дополняет систему возможностями анализа и документирования.
План-полуапохроматические и план-апохроматические объективы микроскопа свободны от внутренних напряжений. В промежуточном тубусе установлены анализатор и линза Бертрана, есть слот для установки компенсаторов.
Микроскоп используется в кристаллографии, петрографии, минералогии, криминалистике, медицине и других областях науки.